粗糙度測量儀
簡要描述：
OPTACOM粗糙度測量儀致力于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場精密輪廓粗糙度測量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測量儀或精密輪廓粗糙度綜合測量儀。儀器參數(shù)符合ISO、DIN、JIS、EN等各類標(biāo)準(zhǔn)。CNC全自動X、Z軸采用全程大量程高精度光柵尺，選配上下雙向測針，Y軸自動工作臺同時(shí)可測量旋轉(zhuǎn)類工件內(nèi)外徑幾何尺寸（自動鎖定拐點(diǎn)測直徑），內(nèi)外輪廓形貌等。
產(chǎn)品時(shí)間：2020-03-12
OPTACOM粗糙度測量儀致力于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場精密輪廓粗糙度測量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測量儀或精密輪廓粗糙度綜合測量儀。儀器參數(shù)符合ISO、DIN、JIS、EN等各類標(biāo)準(zhǔn)。CNC全自動X、Z軸采用全程大量程高精度光柵尺，選配上下雙向測針，Y軸自動工作臺同時(shí)可測量旋轉(zhuǎn)類工件內(nèi)外徑幾何尺寸(自動鎖定拐點(diǎn)測直徑)，內(nèi)外輪廓形貌等。再選配分度頭裝夾工件，可測量圓度、圓柱度及不同截面的復(fù)雜幾何尺寸。
粗糙度測量儀主要 特點(diǎn)：
◆儀器主體結(jié)構(gòu)采用輕型耐用的航空合金材料
◆ X軸與Z軸采用獨(dú)立機(jī)械系統(tǒng)，可同時(shí)實(shí)現(xiàn)X&Z雙軸全量程范圍內(nèi)連續(xù)掃描，并保持針尖分辨率恒定
◆ X軸與Z軸采用獨(dú)立整體光柵系統(tǒng)
◆ THK*供給的超精密線性導(dǎo)軌
◆ 非接觸式增量光柵的測量系統(tǒng)，密閉式的設(shè)計(jì)可zui大程度降低磨損和提高讀數(shù)可靠性
◆ 輕型高強(qiáng)度碳纖維聚合物測量臂
◆ 電子反饋測力機(jī)構(gòu)
◆ 快速裝卸測針裝置，可自定位
◆ 操縱桿全自動控制測量
特點(diǎn)
| 硬件特點(diǎn) | 軟件優(yōu)點(diǎn) |
| 模塊化設(shè)計(jì)，升級簡單 | 所有測量模塊，一個(gè)測量軟件 |
| 維護(hù)保養(yǎng)成本低 | 人性化的軟件，操作簡單 |
| 增量式光柵 | 軟件支持中文及多國語言 |
| 測針全自動接觸工件表面 | 一次測量即可評價(jià)輪廓度、粗糙度、圓度 |
| 測針堅(jiān)實(shí)耐用,全自動防撞保護(hù)系統(tǒng) | 全自動測針校準(zhǔn) |
| 固定式測桿系統(tǒng) | 可自定義打印模板 |
| zui大425X425mm標(biāo)準(zhǔn)測量范圍 | 測量和打印多窗口獨(dú)立顯示 |
| 移動亦可測量，測量亦可移動 |
技術(shù)參數(shù)：
| 型號 | VC10 | VC10EL | VC10UL | LC10 |
| X軸測量范圍mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| Z軸測量范圍mm | 225 | 325 | 425 | 225 |
| X軸Z軸全量程分辨率 | 0.002μm | 0.02μm | ||
| 針尖分辨率 | 小于3nm | 小于30nm | ||
| 測量力(軟件自動調(diào)節(jié)) | 0-150mN | |||
| 測量長度 | 0.1-225/325/425mm | |||
| 爬坡能力 | 上坡78°, 下坡87° | |||
雙向測量模塊
Optacom公司擁有大量程精密雙向測量技術(shù)的，通過雙向測量模塊的應(yīng)用，用戶可以非常容易的測量工件的輪廓，角度，距離，圓弧半徑和標(biāo)注公差等。這使得用戶能方便的測量出工件的整個(gè)輪廓，并能分析各個(gè)元素之間的關(guān)系。
Optacom公司的雙向測量技術(shù)非常簡單易懂，通過對零件的上下輪廓的精密掃描，在軟件中建立起零件的坐標(biāo)系，從而可以計(jì)算零件整個(gè)輪廓各個(gè)部分之間的尺寸和位置關(guān)系。
應(yīng)用實(shí)例：
外螺紋測量實(shí)例：
內(nèi)螺紋測量實(shí)例：
超深內(nèi)孔輪廓測量實(shí)例：
